晶格原子检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.晶格常数测定：精度0.0001nm（XRD法），涵盖立方/六方/正交晶系

2.位错密度分析：分辨率≥10⁶cm^-2（TEM法）

3.空位浓度检测：灵敏度0.01at%（正电子湮灭谱）

4.原子占位率测定：误差范围0.5%（中子衍射法）

5.晶界偏析分析：元素探测限≤50ppm（APT原子探针）

检测范围

1.金属合金：包括铝合金（AA2000/7000系列）、钛合金（Ti-6Al-4V）等

2.半导体材料：硅单晶（<111>/<100>取向）、GaN外延层等

3.陶瓷材料：氧化锆（YSZ）、碳化硅（β-SiC）等

4.纳米材料：量子点（CdSe）、金属纳米线（Au,Ag）

5.高温超导材料：YBCO（YBa₂Cu₃O_7-δ）薄膜

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME975-2020/GB/T8362-2018

2.透射电子显微术：ISO25498:2018/GB/T27788-2020

3.中子衍射分析：ISO21401:2018

4.原子探针层析技术：ASTME3060-2022

5.同步辐射表征：ISO/TS21383:2021

检测设备

1.高分辨透射电镜：JEOLJEM-ARM300F（球差校正型，点分辨率0.08nm）

2.X射线衍射仪：BrukerD8ADVANCE（Cu靶Kα辐射源,λ=0.15406nm）

3.三维原子探针：CAMECALEAP5000XR（探测效率80%，质量分辨率m/Δm≥2000）

4.中子衍射谱仪：ILLD20（波长范围0.8-5,Δd/d≈0.3%）

5.同步辐射装置：上海光源BL14B1线站（能量范围5-20keV）

6.正电子寿命谱仪：ORTECPositronFit系统（时间分辨率230ps）

7.扫描探针显微镜：BrukerDimensionIcon（原子级表面形貌表征）

8.聚焦离子束系统：ThermoScientificHeliosG4UX（定位精度10nm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质